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荧光光谱分析法进行RoHS检测的主要特点

时间:2021-01-06 来源:计量校准点击:次

荧光光谱分析法进行RoHS检测的主要特点

　　检测上述六种物质的方法有两种：一种是用适当的混合酸进行全消解，必要时微波加热加压消解后，用等离子发射光谱仪/质谱仪(ICP)、原子吸收光谱仪(AAS)、紫外分光光度计(UV-VIS)、气相色谱/质谱(GC-MS)进行定量分析。这种方法的主要优点是可以定量分析样品。

　　另一种是荧光光谱法(XRF)，分为波长散射法(WD-XRF)和能量散射法(ED-XRF)。原理是样品受到X射线，辐射，原子受到撞击使外层电子产生能级跃迁，低能电子获得能量向高能级移动，在原来的地方留下空位，而一些高能电子填补这些空位。在填充过程中，高能级的电子失去能量，这些能量以荧光X射线的形式释放出来，根据不同的原子和不同的壳层，这些荧光X射线的能量是不同的。检测设备有一个检测器来收集这些荧光X射线粒子。然后根据能量判断元素的种类，根据收集到的粒子强度计算元素的含量。这种方法可以分为半定量分析和定量分析。半定量分析称为FP(基本参数)法。原理是先进行定性分析，然后根据检测到的荧光X射线强度和元素的比例计算出各组分的含量。定量分析一般采用测量线法。首先对几个标准样品进行测试，制成基准测量线，然后对实际样品进行测试，并与测量线进行比较，从而确定实际样品中元素的含量。

　　荧光光谱法(XRF)检测RoHS的主要特点是无需复杂的样品预处理，可用于金属、树脂、粉末、液体等样品的无损、直接测定，可快速、简便地测定镉(Cd)、铅(Pb)、汞(Hg)、总铬(Cr)、总溴(Br)。RoHS检测的主要依据是SJ/T11365-2006 《电子电气产品中有毒有害物质的检测方法》，这是一种利用X射线荧光光谱仪筛查电子信息产品中有毒有害物质的检测方法。

　　荧光光谱法(XRF)可以检测铬，但不能区分样品是有毒的六价铬还是三价铬。如果样品中总铬含量低于限定范围(700ppm)，则意味着六价铬含量较低(低于1000ppm)。如果不存在这种情况，需要进行危险的化学分析。SJ/T11365-2006 《电子电气产品中有毒有害物质的检测方法》中的比色法可用于检测六价铬，或分光光度法(UV-VIS)可用于定量分析。

　　通常计量检测，样品中所含的溴化物不限于多溴联苯、PBDE或四溴双酚。自然界有数百万种溴化物。但荧光光谱法(XRF)无法区分样品中含有哪些溴化物，只能判断溴。因此，荧光光谱法(XRF)的检测结果为总溴含量。按照同样的规则，如果PBB和PBDE的总溴含量低于限值(300ppm)，则可以判断PBB和PBDE未超标；否则，可以用气相色谱-质谱联用仪进行定量分析

　　XRF检测RoHS时，对样品的形状和尺寸有一定的要求，应大于2mm，金属样品的厚度应大于0.2mm，非金属制品的厚度应大于2mm。样品的形状和大小对测试结果有很大的影响。当测试表面光滑、材料均匀的样品时，精度相对较高，因此在测试过程中考虑改进样品是合适的。由于电子产品的成品和半成品是由多种材料组成的，所以必须先进行拆解，直到获得最小的、不能再机械拆解的同质材料检测单元，满足检测要求。

　　测试的时候不能只看数据，还要看谱图，因为元素之间是相互干扰的。典型的干扰包括铑和锑干扰镉，溴和砷干扰铅，砷干扰铅酸蓄电池，溴干扰铅酸蓄电池。特别是当测试结果超过标准值时，我们必须注意观察被测对象是否

　　使用荧光光谱法(XRF)进行检测时，需要注意的是，它只用于筛选，只测试一定厚度的表层。这一结果无法与ICP等定量分析结果相比。如果试样是比较均匀的材料，只要调整好它的参数，用它分析的无标记结果也是很好的。对于通过筛选测试的材料，可以省略确认测试，节省时间和成本。